随着电路集成度的不断提高,它的可靠性在应用中变得越来越重要,因此电路测试受到了广泛重视。集成电路IC芯片功能测试仪是一种常用的芯片级离线测试仪,用来对脱离电路板的独立芯片进行逻辑测试和故障检测。　　 本文采用主从单片机结构,通过使用主机控制从机,RS232接口通信技术,USB转串口通信技术,微控制器灵活编程和控制技术等,实现一款便携式、可扩展的IC芯片功能测试仪。本文首先介绍了IC芯片功能测试仪的国内外研究状况,本文的主要工作内容,电路的故障检测与测试生成算法和IC功能测试仪的工作原理。其次,给出了IC功能测试仪的设计方案,包括硬件系统组成与软件设计。　　 (1)硬件系统包括:单片机电路模块、串口电平转换及接口电路、USB转串口通信电路、矩阵键盘、LCD显示电路、20脚测试芯片插座及电源、地的自动控制电路。　　 (2)软件设计包括:测试数据库的建立、串口通信协议和驱动程序、主单片机程序设计和从单片机程序设计、上位机软件设计。测试数据库的建立包括:测试芯片简介和芯片的测试集。串口通信协议和驱动程序部分包括:串口通信协议、上位机串口程序和主单片机串口程序。主单片机设计包括:主单片机控制流程、矩阵键盘驱动程序和LCD驱动程序。从单片机设计包括:从单片机控制流程、芯片测试及实现程序。其中,测试数据库的建立是主要的工作之一；软件设计部分的重点是芯片的测试及程序实现。　　 最后,本文对整个系统进行了调试,包括主、从单片机软件调试和硬件仿真,上位机调试。调试结果表明,本文对IC芯片功能测试仪的硬件与软件设计方案合理可行。