VLSI互连效应的模型及模拟研究

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集成电路互连布线设计中,信号在互连线上的延迟和干扰已成为限制系统工作频率进一步提高的瓶颈问题,高性能微处理器必须解决好电路布局布线中产生的互连效应.该文主要致力于VLSI芯片上互连的模型及模拟研究,在第一章绪论部分作者首先论述了集成电路的发展趋势及面临的互连瓶颈问题,VLSI芯片上互连的种类、设计考虑、主要制造技术、VLSI芯片上多层互连布线的发展现状和趋势以及互连问题对IC性能的影响.作者的主要贡献在第二、三、四、五章中论述,归纳起来有以下四个方面:1.VLSI互连传输寄生电容的数值提取;2.VLSI电路中互连线的数值模拟及几何优化设计;3.基于传输线理论的VLSI互连效应的建模;4.VLSI互连线长的概率统计分布模型及其在微处理器性能优化中的应用.
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