为了解决射频(RF)技术的发展带来的安全隐患,在现有有关射频电路的寿命预测相关研究相对缺乏的情况下,本文总结了国内外有关科研成果,以射频晶体振荡器为对象展开了寿命预测的研究工作。通过相关资料和射频晶振的特性分析,本文提取了相位噪声作为反映射频晶振健康状态的特征量,提出了两种解决思路:从相位噪声的幂律系数出发的贝叶斯框架预测方法和从加速度效应出发的晶振加速灵敏度预测方法,并分别结合减小不确定因素的方法来给出振荡器的剩余使用寿命。针对两种模型的特点,本文分别阐述了剩余寿命预测中存在的各项误差的来源和影响,实验结果分别以概率区间和点估计的形式呈现。主要研究内容分为三部分:1.射频晶体振荡器寿命特征量的提取。详细介绍了射频晶振的关键特性参量以及在加速振动条件下的变化,重点阐述了晶振加速效应原理和相位噪声幂律原理同它们的用于寿命预测现实意义。2.寿命预测方法。加速灵敏度预测方法采集了随时间退化的加速灵敏度值,转化为一组与初始时刻加速灵敏度比较的曲线相似度并通过基于M估计的最优剪枝极限学习机进行预测;相位噪声预测方法根据振荡器相位噪声的Lesson理论构建为不同频偏处的负幂成分线性和,再根据最小二乘估计找出这些负幂成分系数随时间退化的规律,将关键系数退化序列输入相近的退化模型,结合贝叶斯框架在最大似然原则下进行迭代,在线地更新每个监测时刻的模型参数以及下一时刻的预测值。3.不确定因素分析。本文对从数据采集到预测结果生成全部过程中可能产生的不确定性来源进行了介绍,并在两种寿命特征量预测方法中加以体现,作为减小不确定性的主要手段;用基于历史样本与现场样本相似性的思路来修正单一现场样本数据量不足造成的外推预测偶然误差,反映了预测这一概念本身的不确定性以及误差的传播。事实证明结合不确定因素分析的两种特征量进行射频电路寿命预测均得到了良好的效果,具有一定应用价值。