NiO_x:W电致变色薄膜研究及在无机全固态器件中的应用

来源 :中国建筑材料科学研究总院 | 被引量 : 0次 | 上传用户:tourena
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电致变色材料能够在外加电压的条件下通过阳离子和电子的注入与抽出实现自身光学性能的可逆变化。NiOx是一种典型的阳极电致变色材料,与其他阳极变色材料相比,NiOx在循环寿命和着色效率等方面具有很大的优势,但存在褪色态透过率低、锂离子存储量难与阴极变色层匹配等问题,限制了其在器件中的应用。国外的研究已经证明,钨元素掺杂能够改善NiOx的性能,但在大多数关于W掺杂NiOx薄膜的研究中,样品的制备采用共溅射法,在固定Ar/O2比例的条件下进行,缺少关于氩氧比、工作气压等工艺参数对薄膜影响的研究,并且共溅射不适合大面积规模化镀膜生产。本文利用直流反应磁控溅射技术,使用摩尔比4:1的镍钨合金靶材,在不同的工艺条件下制备NiOx:W薄膜,研究氩氧比和工作气压等反应磁控溅射镀膜工艺对薄膜成分价态、形貌结构以及性能的影响。此外,Li+是参与电致变色化学反应的必要物质之一,锂化是将Li+引入器件的过程,本课题将寻找合适的锂化工艺,并以NiOx:W为阳极层,尝试制备无机全固态电致变色器件。反应磁控溅射制备获得的NiOx:W薄膜由NiO、Ni2O3和WO3的混合物组成。固定工作气压不变,增加镀膜过程中的氧气流量,薄膜中WO3含量上升,沉积速率降低,颗粒尺寸减小。薄膜的结晶程度因面心立方结构的Ni O减少,无定形态的Ni2O3含量上升而降低,NiO的晶格常数因W6+与Ni2+发生置换而增大。同时,因Ni2+被氧化形成更多的Ni3+,薄膜的光学透过率下降,光学带隙整体上随氧分压上升而减小。由光谱椭偏测试拟合分析获得NiOx:W薄膜折射率(λ>600 nm)和消光系数随氧分压上升而增大。固定镀膜过程中的氩氧比不变,工作气压上升,样品中NiO含量上升,但面心立方结构的NiO转变为非晶态,薄膜的结晶程度降低。随工作气压增大,薄膜表面上的缝隙增多,结构更为疏松。由于Ni2+占镍元素总量的比例增加及薄膜致密程度的变化,样品的透射率随工作气压增大而上升。光学带隙以及由光谱椭偏法分析得到的折射率和消光系数,总体上都随工作气压增大而提高。锂化程度对器件的驱动电压、着色效率以及光调制幅度有显著的影响。制备的器件FTO/LiyWO3/电解质层/NiOx:W/ITO在波长550nm处着色态透过率为3.9%,褪色态透过率为60.2%,光调制幅度达到56.3%,着色效率为1.54cm2/C。
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