统计质量控制已广泛应用于各种工业过程。在传统的质量检验阶段,质量保证是单纯依靠检验或检查来实现的。因此,属于事后的质量保证和不经济的质量保证。现在,统计质量控制研究多集中于控制图技术,其中Shewhart控制图,CUSUM控制图及EWMA控制图是监测工业过程均值或方差漂移的常用工具。传统的Shewhart控制图。严格地说只能用于正态分布的工序。　　 对于非正态分布工序必须开发新的控制图技术。人们很早就意识到当样本来自非正态分布时,常规控制图的监控能力所起的重大变化。Weibull分布是一种重要的连续非正态分布,许多偏态分布可用Weibull分布近似表示。现在,Weibull分布被广泛应用于产品质量寿命等的研究与分析。因此,研究推广用于Weibull分布工序的控制图方法有理论价值和实际意义。　　 本文第一部分概述国内外研究现状和与后文有关的理论介绍。第二部分是文章的主要内容,在此部分我们找出监控参数使用的统计量,然后利用计算机模拟研究控制图表现。对于Weibull分布形状参数已知时,首先给出双侧及单侧控制图的构造方法,然后进行计算机模拟并与Pascual(2010)的研究结果进行比较。结果表明我们所提的控制图无论是双侧情况还是单侧情况,表现要明显优于Pascual的控制图。研究完单个参数后,我们创新性的进行了参数联合监控。以上的研究均假定Weibull分布的参数是已的。当参数未知时,用逆矩法对参数进行估计,讨论样本数对控制图的影响以及需要多少样本数控制图才能够达到参数已知时的表现。模拟结果显示对于受控过程,参数未知时,我们提监控形状参数控制图的表现依然好于Pascual控制图的表现。本文的难点在于,对于联合图我们无法搜索到无偏控制图,因为对伪警报率c的搜索几乎是不可能实现的。