本文应用分子中一个电子受到的作用势(PAEM),对分子特征结构形状进行了研究。对氢分子与氦原子相互作用过程中,氢分子与氦原子的内禀特征轮廓变化进行了研究。经过研究发现,无论是氦原子沿氢分子键轴方向还是沿氢分子键轴垂直平分线方向接近氢分子,沿作用线内侧的内禀特征轮廓半径及其内禀特征轮廓半径上电荷密度的变化,要明显强于其它方向上的内禀特征轮廓半径及其内禀特征轮廓半径上电荷密度的变化;同时,不论是氦原子沿氢分子键轴方向,还是氦原子沿氢分子键轴垂直平分线方向接近氢分子,临界点处的氢分子和氦原子的内禀特征轮廓半径、电荷密度以及电离能的变化都要强于其它位置处的内禀特征轮廓半径、电荷密度以及电离能的变化。通过对一系列分子的结构拓扑分析,我们得到了关于各类分子特征结构所具有的特征结构拓扑标志:已(R,S)值表达各类分子结构拓扑特征,对于原子核(R,S)值为(3,+3),对于原子间成键关系有(R,S)值为(3,+1),对于分子的环状结构的环心处有(R,S)值为(3,-1),对于分子的笼心结构的笼心处有(3,-3);而这些临界点的(R,S)值之间符合Poincare-Hofe关系式。