对于以脉冲计数形式作总量测量的核辐射探测器，死时间、饱和电流、高端脉冲重叠等是影响探测效率的主要因素。为减少测量误差，必须对测量系统分辨率进行确定或者对死时间进行校正，这是一件很复杂的工作，而且不能从根本上解决死时间问题。Time-To-Count测量方法是通过控制加到探测元件上的高压，来测量加上高压后到产生第一个脉冲计数之间的计数前时间，再据此进一步计算出辐射强度，从而消除了死时间等因素的影响，提高了探测效率，其理论依据为放射性物质的放射现象服从泊松分布。本论文首先讨论了Time-To-Count测量方法的理论基础，给出计算辐射强度的估计公式R=k／t(k为常数)，并利用蒙特卡罗方法对Time-To-Count技术进行了计算机模拟，然后在脉冲计数测量方法实验的基础上，选用J32型G-M管和J33型G-M管完成了Time-To-Count测量方法的实验，在实验中利用单片机系统来进行Time-To-Count测量方法中对计数前时间的测定，并完成定时、控制、测量、数据处理等工作，测定计数前时间后，不采取任何数学补偿，由式R=k／t得出辐射场强度。最后，根据大量的实验数据分析了Time-To-Count测量方法中的关键因素，并将Time-To-Count测量方法的实验结果与脉冲计数测量方法的实验结果进行了比较，证明了Time-To-Count技术的可行性、先进性和科学性。实验结果显示，对于γ射线总量测量，应用脉冲计数测量方法时，J32型G-M计数管的线性测量范围约为500μR／h到8000μR／h，J33型G-M计数管的线性测量范围约为50μR／h到5000μR／h，而应用了新的Time-To-Count测量方法后，两种G-M计数管的线性测量范围均拓宽到了20μR／h到30000μR／h以上，前后跨越四个量级，且数据线性仍然没有变坏的迹象，覆盖了以往多个仪表的测量范围，大大提高了系统的测量精度。