由于微波平面电路越来越广泛地应用于微波电路与高速数字电路的设计中,使得微波平面电路的工作频率上限不断增加,尺寸不断减小。为了全面了解微波平面电路特性,需要同时获取电路的时域特性和频域特性。本文针对微波平面电路时域测试和频域测试过程中遇到的主要问题进行了研究。微波平面电路特性可以从时域和频域同时对电路进行测量或者使用数学方法根据其中一个域的测量数据变换得到。本文首先分析了时域测试数据与频域测试数据之间的关系,并选择Chirp-Z变换及其反变换将时域测试数据变换到频域或者将频域测试数据变换到时域。测试数据的时域-频域变换保证了在仅存在时域测试数据或仅存在频域测试数据的前提下同时获取被测微波平面电路时域特性和频域特性的可能性。为了得到比较平滑的特性数据,本文详细讨论窗函数在数据变换过程中所起的作用以及窗函数对变换结果所带来的影响。在时域测试分析中,本文首先介绍了时域反射计对微波平面电路测量的基本原理。本文着重分析了在对非均匀微波平面电路测试过程中存在的多重反射问题,并提出了一种多重反射递归计算算法。在此基础上,根据非均匀微波平面电路的单位阶跃响应重构出了电路的真实阻抗。为了验证多重反射计算算法和非均匀平面传输线的阻抗重构算法,设计了三条非均匀微带传输线,并且使用矢量网络分析仪在10 MHz-20 GHz的频率范围内进行了测试。传输线单位阶跃响应通过Chirp-Z反变换得到。被测传输线阻抗重构结果证明了本文算法的有效性。在频域测试分析中,本文针对矢量网络分析仪对微波平面电路测试过程中由于夹具所引起的误差问题进行了讨论,并提出了双端口矢量网络分析仪测试系统的10项误差模型。根据TRL校准算法的基本过程,推导出了测试系统误差项的封闭解,这些封闭解都是基于S参数的。校准件LINE的传输参数X和REFLECT的反射系数Γ也同时求得,其根的选择问题在本文中也进行了详细的讨论。该算法分别应用在带有过孔的微带电路和共面波导传输线测试中,被测电路去嵌入之后的结果与传统TRL校准结果进行了比对。通过对校准后的S11和S21的对比,证明了本文提出的TRL校准算法是正确的。