光学综合孔径成像技术是高分辨率光学成像技术方法之一,它实现并应用于天文观测研究。光学综合孔径阵列的优化在光学综合孔径成像技术中起着至关重要的作用。本文的主要工作就是对光学综合孔径阵列进行优化。本文在综述了国内外光学综合孔径成像技术的发展基础上,介绍了光学综合孔径干涉成像技术所用到的uv覆盖、闭合相位和图像重构三个关键技术及子孔径排列的原理。重点对子孔径阵列进行了详细研究,提出了直线阵列的优化方案,求出了子孔径数目不大于9个的有缺失小冗余的阵列和无缺失的阵列。为了对提出的孔径阵列的优化效果进行评价,本文采用了一种新的利用采样频谱图分析的评价方法,着重对直线阵列的优化结果进行了分析,以四个孔径为例,对直线阵列的成像结果进行了计算机模拟,得到干涉图以及干涉频谱图,并用干涉图的信息熵对直线阵列性能做了定量分析。通过对不同参数条件下的两孔径干涉实验结果的分析,确定了实验室中直线阵列孔径半径大小,并对四个孔径的直线阵列进行了实验。实验结果表明,本文采用的孔径阵列的优化判断方法以及实现优化的过程是有效的。