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本文通过地面模拟空间环境试验,研究了低能电子(60keV~150keV)辐照下航天器上实用的带盖片的GaAs/Ge太阳电池的辐照损伤效应。通过对电池辐照过程中伏安特性的原位测试,研究了辐照后带盖片GaAs/Ge太阳电池电性能参数的变化规律;利用光谱响应、光学反射率、光致发光光谱(PL)和暗特性测试等方法研究了带盖片GaAs/Ge太阳电池辐照前后性能的变化,分析了低能电子辐照对带盖片GaAs/Ge太阳电池性能衰减的原因;并利用CASINO软件对GaAs/Ge太阳电池进行辐照模拟研究;还对辐照后的太阳电