光电倍增管（PMT）和硅光电倍增管（Si PM）是目前在核物理及高能物理领域应用较为广泛的光电器件。随着光电器件的性能不断优化提升,对其测试系统的功能及性能要求也相应提高。常规实验中,通常对光电器件输出的单路信号进行测试以完成对其性能的标定。而对于具有位置分辨功能的阵列式多阳极光电倍增管（MAPMT）来说,单路测试的方法会引入一系列的测量误差,甚至超过系统误差,导致测量结果不可信。同时考虑在束流和特殊场所下光电器件性能标定需求,具有电荷、时间、脉冲形状甄别等物理量信息同时获取、便携、满足多路同时测量的测试系统将能更加高效地完成光电器件的性能标定工作。本文先后深入研究了多通道桌面式数字化仪（DT）和多道数字脉冲分析器（DPP）这两种波形采样测试系统,实现了对位敏光电器件的性能标定,有效解决了在不同场所下位敏光电器件的性能测试需求问题。同时,这也将为国产超快速位敏多阳极光电倍增管（FPMT）的发展提供有效的测试方案。针对DT,由于其没有相应的控制软件,根据其工作原理及常规光电器件的测试需求,文中基于Lab VIEW编程语言完成了软件开发工作。开发软件可以实现多种触发工作模式下的波形获取、存储数据、多路同时取数、在线积分（QDC）等功能。基于16路光源驱动电路及Si PM,对DT和开发软件进行了联调测试。并且,实现了对光源驱动电路输出信号的波形获取及Si PM的多光子谱测试。在DPP测试系统的研究过程中,对20英寸微通道板型光电倍增管（MCPPMT）和Si PM的性能,采用DPP和常规测试系统进行对比测试。在这两种测试系统下均实现了对20英寸MCP-PMT和Si PM的电荷谱和渡越时间分散（TTS）测试,且两种测试系统下得到的光电器件性能测试结果基本一致。同时,完成了对DPP的最低有效位（LSB）的标定。最后,基于DPP测试系统完成了对MAPMT的高压增益曲线、阳极性能（峰谷比、增益、渡越时间分散）的刻度。同时,基于DPP和DT,CLYC晶体、GAGG组合晶体分别与光电器件耦合,实现了在放射源和束流下的脉冲形状甄别（PSD）。