目的：观察病变侧亚低温对大鼠局灶性脑缺血再灌注后凋亡诱导因子(apoptosis inducing factor，AIF)表达的影响，研究凋亡诱导因子从线粒体释放与神经细胞凋亡的关系。 方法：用线栓法制作大鼠大脑中动脉闭塞(MCAO)局灶脑缺血再灌注模型，随机分为假手组、常温缺血组和亚低温缺血组，于缺血2h再灌注3h、6h、12h、24h、72h、7天后处死，其中亚低温组于缺血后30min实施病灶侧脑亚低温并持续4h。处死前进行神经功能缺陷评分；HE染色，免疫组化检测AIF的表达，TUNLE检测凋亡细胞。 结果：1、神经功能缺陷评分：亚低温缺血组大鼠各时间点均明显低于常温缺血组(p<0.05)。2、AIF表达：常温组随再灌注时间的延长而表达逐渐增强，至24h达高峰；亚低温缺血组各时间点表达明显少于常温缺血组(p<0.05)。3、凋亡细胞的检测(TUNLE)：常温组TUNLE阳性细胞数随再灌注时间的延长而逐渐增多，至72h达高峰；亚低缺血温各时间点的表达明显减少(p<0.05)。 结论： AIF随缺血再灌注时间的延长，表达逐渐增强并出现核转移，相应时间点亚低温组降低，同时TUNLE阳性细胞数也呈相似的趋势，亚低温抑制缺血后神经元凋亡通过抑制AIF从线粒体释放及核转移起作用。