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我们用脉冲激光溅射沉积(PLD)方法在LaAlO3(LAO)等单晶衬底上生长了Pr0.5Sr0.5MnO3 (PSMO)薄膜,x光衍射实验显示,该薄膜外延生长,具有较好的单晶性。通过比较不同厚度薄膜的晶格结构、相图、电致电阻和磁致电阻等电磁性能,研究了应力对其晶格结构和电磁性能的影响,并研究了后退火处理对薄膜应力和电磁性能的改变,及其作用机理。本文首先介绍了研究背景及意义,说明了研究PSMO薄膜在物理与实用上的意义。其次对研究方法作了简单介绍,通过PLD方法在特定衬底上制备薄膜,通过XRD, R-T