密封式继电器被广泛应用于航空航天领域,这类产品的整个寿命周期包括贮存、运输、工作等状态,其中,贮存时间远大于工作时间,这就需要保证继电器在长期贮存后仍保持着完好性能。接触电阻超标作为密封式继电器在贮存过程中最主要的失效形式,相关的研究引起了人们的广泛关注。围绕着密封式继电器在贮存期间性能变化这一核心,本文以接触电阻为切入点,对接触电阻模型的建立以及继电器寿命的预测进行研究。首先阐述密封式继电器的内部结构,对样品进行贮存寿命加速试验,拍摄继电器触点的运动过程,分析触点运动状态。其次,在研究触点表面形貌变化的基础上提出差平面的概念还原动静触点接触时的接触表面。通过计算试验前后触点表面形貌的磨损量以及分析触点表面的形貌和成分变化,建立动静触点接触表面的接触电阻模型。最后,将接触电阻作为预测继电器贮存寿命的关键参数,融合监测的其他性能参数计算继电器伪寿命,检验伪寿命符合的分布类型,验证预测方法的可靠性。在此基础上,预测得到密封式继电器在正常贮存条件下的贮存寿命。本文为开展密封式继电器在贮存期间的接触电阻建模和寿命预测提供了必要的研究基础与手段,其关键技术和相关方法也可以推广应用到其他机电元件在贮存期间的性能研究中。