半导体照明技术伴随时代的进步，应用愈发广泛，大功率LED照明领域更是逐步走向普及。但实际应用中，LED器件和封装的缺陷及工作时发热极大限制了其性能和实际寿命，可靠性问题日渐显露。为此LED寿命加速测试尤为重要，以实现寿命预测，失效机理分析，使得LED可靠性提升。常用的高温老化测试传统上使用高温试验箱，此方法存在诸多缺点:参数检测不连续、温升慢、体积大、功耗高。本文针对性地研制了一套轻便的LED在线寿命加速多路温控系统（以下简称温控系统）。主要工作内容与研究成果如下:　　1.研制了温控系统的硬件部分。硬件包括加热台、控温器两部分。单个LED加热台能够实现十颗LED同时控温，整体采用轻便坚固的材料制成，主要由电气接触板、LED固定板、加热块以及散热底座组成。该设备加热迅速、受热均匀，LED器件的拆卸、安装及测试十分便利。温度控制器采用高性能单片机，配合温度实时监控实现LED精确控温，控温范围广。　　2.设计了温控系统软件部分。软件包括温度控制器中的单片机程序以及计算机远程控制应用程序。单片机程序中主要设计了主程序、各类子程序访问、中断服务程序以及PID自整定程序;设计计算机应用程序实现温控器远程控制，使用Delphi环境编程，通过RS232串口和Modbus通讯协议构建框架，最后对程序通讯参数设置、温度同步读取、控制以及温度变化曲线监测等功能进行详细的测试。　　3.测试温控系统的整体性能。首先使系统控制在不同温度下，用电子温度计测量加热台各加热触点的温度，以检验温度准确性、一致性以及稳定性。接下来将装有LED的加热台放入老化箱，记录LED在不同温度、恒定小电流下的正向电压数据，将此方法所获结果视作标准值，并与在线温控系统同样条件下得到的数据进行对比。对系统在控温稳定性、速度、精度以及加热台受热均匀度方面逐一进行详细测试，分析得到本控温系统在各方面均具有较满意的性能。　　本温控系统实现同时对多路多颗LED进行不同温度的控制，支持不间断的LED在线测试，温升快、精确度和稳定度较高。同时该系统体积小巧、重量轻，具有良好的便携性，能耗较小。以上诸多性能特性使得本温控系统能够替代LED高温试验箱试验，成为LED高温老化的新方法。利用该系统获取更为细致精确的LED老化测试数据，分析其失效机理和预测寿命，对促进LED工艺技术的改进提升具有积极作用。