红外焦平面阵列技术因其在隐蔽性、抗干扰和检测精度上具有无可比拟的优势,经过几十年的迅速发展,在各领域都有了广泛应用。随着技术的深入发展,如何准确描述红外焦平面阵列的特性逐渐成为了焦平面技术发展的瓶颈。红外焦平面阵列作为红外探测系统的核心器件,其性能直接影响甚至决定着整个系统的质量。要对红外焦平面阵列探测器进行准确评价,一个精确有效的红外焦平面阵列探测器测试系统是必不可少的。因此,无论是对于器件的设计制造者,还是对于器件的使用者,针对红外焦平面阵列探测器进行性能参数测试都是非常必要的。红外焦平面阵列性能参数测试与单元红外探测器的测试有很大不同,焦平面阵列集成了数以万计的探测单元,每个单元的特性参数难以保证完全一致。因此,红外焦平面阵列的特性参数只能使用统计值加以评价。这就要求测试系统要能快速、准确地处理各种数据以如实评价焦平面阵列的各项性能。本论文首先研究了非制冷红外焦平面阵列探测器的测试原理和方法,在确定各种参数的算法后,提出了测试系统的总体方案。根据测试系统的要求,首先对焦平面的驱动电路和温控电路进行了优化,以抑制输出信号的噪声。选择了FPGA控制PCI Express总线接口的传输方案。在硬件设计基础上,开发了计算机程序,实现了电脑与FPGA之间的数据传输,并对数据进行存储、处理和结果显示。最后,用标准器件验证测试系统的功能,对各主要性能参数如噪声、探测率、响应率和噪声等效温差等参数进行测试。经调试验证该非制冷红外焦平面测试系统能稳定工作,满足焦平面阵列参数测试对噪声、精度、实时性、可靠性的要求。同时本系统还具有成本低、可扩展性强的特点。