随着近年来电子信息技术的迅猛发展，电源技术也随之向着高速和高频方向不断发展。因此，电源管理(Power Manage)技术在信息产业技术的多个领域中得到了广泛的应用。而随着频率的不断提高，这就给如何对其动态参数和静态参数进行准确的测试带来了前所未有的挑战。众所周知，所有的商用化芯片最终都要依赖于ATE(Automatic Test Equipment)设备进行量产测试。但由于各类ATE测试系统的性能提升明显落后于PM产品性能的高速发展，因此，对于更高集成度、更高精度、更低功耗的电源管理器芯片可能会面临无法基于现有ATE测试平台进行量产测试的问题，或面临配置有超高性能模拟模块的ATE装机少、测试成本昂贵的问题。本课题为节约测试成本，简化测试流程设计，以一款ADI公司的电源管理芯片ADP2381为例，设计出一套易于操作的ATE测试系统和性能分析方案。该芯片可在4.5V~20V的输入电压下运行，可以提供6A的输出电流。输出电压可以从0.6V调至输入电压的90%。且ADP2381的开关频率可以在250kHz~1.4MHz之间选择。本文首先对ADP2381的设计与测试在国内外的发展状况作了简要的介绍，接下来对与其测试相关的测试理论作了逐一的阐述，给出了ADP2381主要静态参数和动态参数，并对电源管理器芯片内几种重要的模块进行了介绍，包括控制单元，不同种类的稳压源，过电压、过电流以及过温度保护模块和基准模块。其次，讲述了ADP2381芯片的测试流程以及测试工具。分析了测试硬件的设计以及测试程序的优化处理。在介绍了自动测试系统一MicroFLEX，以及测试软件IG-XL之后。本文详细阐述了直流测试、交流测试和功能测试原理和测试结果。最后，在测试研发过程中，对测试程序和测试硬件（测试板—Load Board）进行调试，实现了程序的较高测试精度，以满足芯片本身高精度的要求，并给出了实际的测试结果，进而验证本测试系统的设计基本满足了预期测试性能要求。