集成信息处理器是导弹、卫星等大型设备的核心组成部分,其性能优劣直接影响系统的整体性能,在系统进行组装之前对集成信息处理器进行功能完备性和覆盖性测试尤为重要。近年来,导弹、卫星等飞行器技术持续高速发展,集成信息处理器呈现复杂、多样化趋势。研制周期长、研制阶段多、技术状态频繁更改等特点对测试系统适应性和通用化提出了更高的要求。能否在短时间内完成全面的集成信息处理器功能测试,将对压缩空天飞行器研制周期及成本起到关键作用。本文旨在研究一种具有较强通用性的模飞测试系统,能够完成多型号集成信息处理器全寿命周期不同阶段的模飞测试,对于减少系列型号项目研制成本和周期,提高型号综合保障能力,提高系统故障定位隔离水平,降低研制风险等方面都具有重要的现实意义。首先,本文详细分析了多个型号实际测试需求,在此基础上,根据集成信息处理器模飞测试系统需要完成的开环、闭环模飞功能,对集成信息处理器模飞测试系统的总体方案进行了论证和分析,通过论证和分析进一步确定了集成信息处理器模飞测试系统的总体设计方案。其次,在硬件设计方面,基于模块化设计思想,将整个集成信息处理器模飞测试系统分为测试计算机、数字量接口模块和模拟量接口模块三部分,利用标准CPCI总线架构实现了整个模飞测试系统的硬件功能。详细阐述了各模块的硬件设计方案,对基于CPCI总线的开环模飞技术、基于DSP实时解算的闭环模飞技术、CF卡大容量数据备份存储技术、基于FPGA的Nios II片上系统协处理技术等关键技术做了重点阐述。再次,在软件设计方面,分别以Lab Windows/CVI和Nios II Eclipse作为软件设计平台,设计了针对不同模块工作的系统驱动程序、系统功能软件、手动测试软件、嵌入式协处理软件,并在此基础上最终实现了基于数据库的自动测试流程软件。最后,本文介绍了集成信息处理器模飞测试系统的软件、硬件调试方法,并对调试过程进行了详细的记录和分析,最终对各项测试结果进行了误差分析。现场联调结果表明,集成信息处理器模飞测试系统能够满足三个型号的测试任务需求,具有较高的测试覆盖性及通用性。该系统的研制对缩短项目研制周期、降低项目整体开销有明显意义。