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随着科学技术的不断发展,许多领域的电子产品需要进行可靠性增长试验,用来判断电子设备正常工作的概率。通过数据服从某种分布而进行可靠性分析已成为对某种电子设备的重要判断标准。在已经趋于成熟的分布中,多受到资金、人力和时间的限制。随着人们对快速及节约资源的分析处理方法认识的提高,应该寻找更为具有针对性的推断方法。Poisson分布的特性可以摆脱在可靠性增长试验过程中设备失效必须观测到准确的时间点的束缚,甚至不需要观测到设备失效的时间区间。本文针对Poisson型电子设备的可靠性增长试验数据,在相应