K荧光增强X线管及对照普通X线管能谱强度理论计算与实验测量

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X射线技术的应用和发展给医学诊断与治疗带来了很大的方便,但不可低估它对非受照者及公众的危害。对于常见患体结构──常用接收系统,当入射光子能量为37.5至50keV时(对乳腺诊断22-35keV)得到同样信照比所需照射量最小。基于以上条件,谭大刚教授发明并研制了“K荧光增强型X线管”,它所提供的光谱中带有很强的K荧光成份,其能量恰巧为医学诊断的最佳能量。 本文对普通x射线管和K荧光增强型X线管能谱强度作了理论计算。其次,实验测量了普通X线管能谱强度,并与理论计算值做比较,得出结论: 1、K荧光增强型X线管在发生轫致辐射的同时,也要发生在El=42.75keV,E2=49.13keV处发生K特征辐射,其中次级靶Gd产生的K特征峰能量正是医疗诊断中需要的最佳光子能量。 2、通过普通X射线管和K荧光增强型X线管理论能谱强度的比较可知:当管电压为70-100kV时,K荧光增强型X线管产生的能谱强度在光子能量42-50key处得到显著增强。 3、通过实验测量能谱与理论计算值的比较,验证了原有理论公式的正确性,及原有能谱测量系统和方法的可行性。在今后的实验中,需要对管电流的控制和测量加以改进,以便得到更精确的能谱。
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