本论文简单介绍了自旋电子学和磁电阻效应的一些研究进展，分析了几种常见的巨磁电阻效应系统。实验以In作为非磁层，采用直流磁控溅射技术制备了系列Fe/In多层膜和用共溅射方法制备了Fe/In颗粒膜等多种磁性薄膜样品。详细介绍了样品的制备、结构表征和测量过程。用原子力显微镜观察了样品的表面形貌；用X射线光电子谱对颗粒膜样品的成分及其随厚度的变化进行分析；用振动样品磁强计(VSM)测量样品的磁性；用微电阻测试系统对样品在不同温度下的磁电阻等相关特性测量。系统地研究了磁性层厚度、非磁性层厚度和温度变化对磁电阻效应的影响及其产生的机制。从样品微结构角度，采用类似于朗之万函数的公式对磁电阻曲线进行了拟合，利用Slonczewski的“界面松散自旋”模型和自旋相关散射理论对实验结果进行了解释，讨论了Fe/In磁性薄膜系统中微结构对电传导和磁性等的影响机理。主要内容包括以下几个方面： (1)、通过磁控溅射法制作了的Fe/In多层膜系列样品。 (2)、原子力显微镜观察到Fe/In多层膜样品的表面形貌很粗糙。 (3)、随着非磁性层In层厚度的变化，MR出现周期性振荡，振荡周期为1.3nm左右，当In层厚度大于一定值时，出现MR随温度降低而减小的反常行为。随着磁性层Fe层厚度的变化，MR出现一个极大值。 (4)、样品的MR由高场部分和低场部分组成：高场部分MR来自于相邻Fe层耦合的自旋相关散射的贡献，随温度的下降而升高；低场部分MR由Fe/In界面处Fe团簇颗粒的类超顺磁行为引起，出现随温度的下降而减小的反常行为。 (5)、Fe/In颗粒膜样品采用共溅射法制成。磁电阻效应和磁性质的研究显示Fe颗粒的形状不是球形的，而是呈扁平状的。X射线光电子谱的分析表明Fe/In颗粒膜表面Fe颗粒部分被氧化，In颗粒和内部的Fe颗粒以单质形态存在。