颗粒粒度大小对于许多工业产品的质量和性能都起着非常重要的影响，基于嵌入式系统图像处理的颗粒粒度检测技术，因其具有便携性、安全、快速、非接触测量等诸多优势，成为目前颗粒粒度检测技术的发展趋势。目前基于图像法颗粒粒度测量大部分针对的是圆形颗粒，而对于其它形状的颗粒粒度测量研究较少。针对课题中片状颗粒对象的颗粒厚度，本文设计搭建了一个全新的测量平台，即使用单目摄像机从片状颗粒侧面进行拍摄的方法，设计了一套现场颗粒图像测量的硬件平台;针对片状颗粒厚度检测的实际需求，结合机器视觉、图像处理和嵌入式技术，设计了一套基于高性能ARM的微片状颗粒厚度检测系统，该系统是以Linux和S3C2440为软硬件平台，并在图像算法研究的基础上完成了图像测量系统软件。　　本论文论述了片状颗粒粒度图像检测系统的软硬件架构，阐述了系统的软硬件构成，并且对该检测系统软件平台的构建进行了详细的阐述，实现嵌入式系统软件部分的设计。　　本论文研究的另一个主要内容为嵌入式图像处理算法的设计与实现部分，针对片状颗粒粒度的项目背景，对图像算法进行研究的基础上完成了对片状颗粒图像厚度进行测量的系统软件，即提出了利用轮廓提取和最小矩形边界框相结合的方法计算片状颗粒厚度。本文最后对图像测量系统的测量结果进行了分析。