航天继电器是武器装备中常见的机电元件。某些武器装备具有“长期贮存，一次使用”的特点，因此，正确预计继电器的贮存寿命，对于保障军事装备在完整寿命期内的正常使用具有重要理论意义和实用价值。目前，贮存加速试验往往很难获得失效数据，传统的寿命试验的理论无法用来评估贮存寿命。针对以上问题，本文在分析继电器贮存失效机理的基础上，对航天继电器的贮存加速试验方法和贮存寿命预测方法进行了深入研究。目前，航天继电器的贮存加速试验中所测量参数往往依据经验从常规参数中选取，目的性不强，且未必对加速应力敏感。本文通过深入剖析导致航天继电器贮存失效的主要机理，从触点腐蚀膜的成膜机理和应力松弛机理出发，确定贮存过程中继电器失效的表征参数。利用离子扩散理论推导腐蚀膜增长的数学表达式，建立接触电阻的贮存退化模型，用实验和仿真的方法确定反力与吸合时间的关系，结合应力松弛理论，建立吸合时间的贮存退化模型。为试验方案的确定和贮存寿命的预测提供了理论依据。通过确定贮存加速试验类型、加速应力类型及水平、样品数量、监测参数和测试条件等方面内容，给出贮存加速试验的设计方法。进行航天继电器的贮存加速试验，得到贮存性能退化数据。通过对接触电阻和吸合时间进行趋势分析和相关性分析，验证参数选取的正确性。航天继电器贮存性能退化缓慢，而退化数据中包含大量与贮存失效有关的信息，通过分析退化数据能够揭示整个贮存退化过程。本文提出基于退化数据的航天继电器贮存寿命预测方法。利用小波理论和平稳性检验方法对试验数据进行预处理，建立继电器的贮存退化轨迹模型，外推各只继电器的伪寿命。借助于Gamma随机过程的方法研究贮存退化过程，建立退化模型，利用极大似然估计法估计模型参数，得到继电器各应力下的寿命分布。建立Weibull-Arrhenius加速模型，得到常温贮存寿命的点估计和区间估计。最后，设计并开发了航天继电器贮存加速试验测试分析系统。采用交流信号激励的改进四线法和二端对法提高小电流下的接触电阻测量精度，按照标准设计吸合时间测量电路，利用设计的切换板实现大样本的顺序轮流检测，采用VC++编写系统软件，实现对性能退化参数的定期自动高精度测量和分析。