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本研究基于Landau-de Gennes理论，利用二维松弛迭代方法，研究了s=±1/2扭曲向错的有序重构。主要分两部分：第一部分研究了强锚泊边界下，随着盒厚减小缺陷核的结构变化。在临界值dc?≈9ξ(ξ是序参数变化的相干长度)，有序重构结构是稳定态，而带缺陷结构是亚稳态，此时系统缺陷结构和双轴性开始沿基板方向扩散。相对于没有初始向错的情况，本征值交换为稳定解对应的盒厚较大。在临界盒厚dc≈7ξ，系统发生双轴性转变，双轴性结构扩散到整个液晶盒，形成双轴壁。在盒厚d≈9ξ时力达到极大值，而d≈7ξ时力达到极小值。第二部分研究单侧(下基板)弱锚泊边界条件下扭曲向错的形变结构。数值模拟得出不同锚泊强度系数对应的双轴性和指向矢取向等高图，从图中分析缺陷结构随锚泊强度系数的变化。当锚泊强度系数降低到一定值，非对称的边界条件将缺陷驱出下边界。