随着电子技术的飞速发展,电子设备中大量使用大规模集成电路芯片,其结构紧凑,而且电路的管脚密集、逻辑复杂。特别是在雷达、通讯、导航、计算机等电子设备中大量的使用了混合信号的集成电路,采用传统的测试手段已无法满足电子设备测试的要求。混合边界扫描测试技术作为一种结构插入的可测试性技术,大大提高了混合信号电路板的可观性和可控性,使电子系统的测试难度大大的降低。边界扫描技术作为一种新兴的BIT技术,在工业界内得到了广泛的应用。本文深入研究了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据边界扫描标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的混合信号边界扫描测试系统。主要研究的内容以及所作的工作如下:详细分析了IEEE1149.4标准中针对混合信号电路测试新增的结构,即模拟边界模块及测试接口电路。基于混合信号边界扫描技术标准,提出混合信号边界扫描控制器的设计方案并实现了其硬件设计,包括边界扫描控制模块、显示驱动模块等。最后本文对混合信号电路边界扫描测试中测试方法进行研究。试验结果表明,该测试系统的设计是可行的。