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随着交换偏置在巨磁电阻效应和磁随机存储器上的广泛应用，人们对磁性薄膜的各方面性质产生了浓厚的兴趣。多层薄膜是自旋阀的基本结构，而薄膜层间的耦合和薄膜之间的界面状况、以及相关效应成为人们所研究的热点。本文利用铁磁共振法，采用能量极小原理讨论了自旋阀结构体系中的铁磁共振问题。详细的研究了自旋阀结构中磁性薄膜层间耦合，和应力各向异性场对体系共振频率的影响，进而得出共振频率随外磁场强度的变化关系曲线。结论得出:本文模型中外应力场强度和方向对系统共振频率影响比较明显，在一定条件下层间耦合强度和交换各向异性场对体系影响也比较强烈;而外应力场方向对光学模共振频率的影响强于声学模;而外应力场强度对声学模共振频率的影响强于光学模。