目的：　　运用锥形束CT（cone beam computed tomography，CBCT）测量分析骨性Ⅱ类错(牙合)青少年上颌第二前磨牙与第一磨牙之间不同截面最小根间距及颊侧骨皮质表面与根间最窄处距离，为临床微种植体的安全植入提供参考。　　方法：　　选取44（12-16岁）例骨性Ⅱ类错(牙合)青少年患者的CBCT资料,其中男性23例，女性21例，平均年龄14.07岁。取上颌第二前磨牙与第一磨牙根间的9个水平截面，每个截面相距1mm，第一个截面距第一磨牙近中颊根釉牙骨质界（cemento-enamel junction,CEJ）2mm，分别测量每个截面的最小根间距及颊侧骨皮质表面与根间最窄处距离。使用SPSS20.0软件对测量结果进行统计学分析，并对测量数据与SNA角、SNB角、ANB角进行Pearson相关性分析。　　结果：　　1、每个截面的最小根间距，左右两侧无统计学差异（P＞0.05），男女之间无统计学差异（P＞0.05）,9个截面之间的测量值均存在统计学差异（P＜0.05）；最小根间距由CEJ至根尖呈现递增的趋势；各截面最小根间距与SNA、SNB及ANB角无明显相关性（P＞0.05）。　　2、每个截面的颊侧骨皮质表面距根间最窄处距离，左右两侧无统计学差异（P＞0.05），男女之间无统计学差异（P＞0.05）,9个截面之间的测量值均存在统计学差异（P＜0.05）；颊侧骨皮质表面与根间最窄处距离从距 CEJ2mm到距CEJ4mm处呈现递增的趋势，在4mm处达到最大，距CEJ4mm以后的区域呈现出递减的趋势，且各截面的均值都大于5mm；左侧在接近根尖部（距 CEJ7mm-9mm）区域的颊侧骨皮质表面距根间最窄处距离与SNA角呈正相关关系（P＜0.05），各截面测量值与SNB角、ANB角无明显相关性（P＞0.05，表8）。　　结论：　　经CBCT测量分析获取了骨性Ⅱ类错(牙合)青少年上颌第二前磨牙与第一磨牙之间最小根间距和颊侧骨皮质表面与根间最窄处距离，了解了其分布规律，为临床微种植体的安全植入提供了一定的参考。