作为新一代照明光源，LED具有节能、环保、寿命长、体积小、响应快等特点，是近年来全球最具发展前景的高新技术领域之一。许多国家针对LED照明制定了一系列的发展计划，LED的光效、寿命、单灯光通量、单灯输入功率等技术指标逐年提升。尽管功率型LED已经具备了进入通用照明所需的发光效率，但是如何提高其寿命与可靠性却是业界一直未能完全解决的难题。如果不能实现高可靠性的LED光源，即使发光效率再高，昂贵的维护成本也必然会限制其在各个领域的应用，所以如何提高功率型LED的可靠性成为了现阶段业界研究的重点。　　本课题就是围绕GaN基功率型白光LED的可靠性展开了深入的研究，具体工作内容包括以下几个方面：　　一、以国内外半导体器件可靠性试验标准和LED样品的摸底试验为基础，确定了功率型白光LED加速寿命试验的试验方案。对应于试验方案搭建了相应的加速寿命试验的老化平台，并选定了测试LED特性的一系列相关仪器设备。　　二、以光通量为失效判据的敏感参数，根据老化试验结果用阿伦尼斯模型和逆幂率模型进行寿命推算，得到试验中两种不同焊接工艺的LED在正常工作环境下的使用寿命，并由加速模型方程得到两种LED在不同环境温度及不同工作电流下的寿命分布图。　　三、利用在老化试验过程中阶段性测试得到的LED样品的光学、电学及热学参数，并结合C-SAM、SEM等微区分析手段，分析了功率型白光LED的失效机理。讨论了包括蓝光芯片、焊料、YAG荧光粉和透镜等LED各组成部分的退化对LED光输出造成的影响。　　四、以本实验室的单路LED热阻测试仪的构架为基础，研制了LED热阻筛选测试系统，实现了对功率型LED热阻的快速批量筛选，为生产商提高LED灯组的寿命提供了一条便捷的途径。