基于电光晶体测量高功率微波的技术研究

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高功率微波由于其在军事、工业、科学研究方面的需求向着更高频率、更高能量迅速发展。高功率微波的测量是研究高功率微波的一个重要手段,电光晶体测量法由于其可测频率高、测量频带宽、功率容量大、空间灵敏度高、干扰小而备受关注。考虑到传统的电光晶体测量法调节复杂、稳定性差等缺点,提出了一种基于电光晶体的全光纤高功率微波光学测量系统,并对该系统进行了详细的理论和实验研究,具体研究内容如下:1、分析了电光晶体测量法的原理,分析得到适合测量高功率微波电场的晶系种类,对不同晶系电光晶体测量电场的方法进行了理论分析,归纳
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