随着电子芯片产业的迅猛发展,芯片质量的优劣直接影响到了产品性能的好坏。因而对芯片进行自动化测试的研究已经非常必要。NRF24L01是一款常用的频率在2.45GHz左右能进行无线收发的芯片,本文设计了一套针对该芯片的自动化测试平台。论文首先介绍了测试平台的意义和本文结构安排,然后介绍了为芯片检测提供外部温度环境的仪器——高低温试验箱,以及NRF24L01射频芯片的工作模式和本文利用测试平台要控制的发射模式,给出了自动化测试平台的整体设计框架。接着,论文讲述了虚拟仪器的概念、虚拟仪器体系结构、控制指令和总线技术等,基于这些原理实现了该测量系统中对频谱仪的控制。首先为上位机界面的实现,基于数据库访问技术和VISA函数的应用,设计了一款界面,该界面可以实现初始化频谱仪、自动控制测试平台和自动管理测试数据等。然后为下位机平台的实现,通过串口通信方式实现基于STM32F103芯片的测试平台对NRF24L01射频芯片的工作模式的设置,完成了上位机对射频芯片的控制。测试平台实现了测试系统的常规功能：如对测试平台的控制,数据自动化存储,频谱仪的控制,波形显示等。最后对本文设计的自动化测试平台进行了应用测试,并基于最小二乘法,分析了温度对输出功率的影响,为使用者提供参考。测试结果表明：该测试平台界面友好,操作方便,该测试平台的设计成功,大大缩小了芯片测试的周期,提高了测试的效率,具有较好的可靠性。