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自2004年以来,束缚在氧化物绝缘体界面上的二维电子气(2DEG)尤其是SrTiO3/LaAlO3 界面金属态[1]引起了广泛的讨论,然而这种界面金属态的确切物理起源一直存在争议,因此对界面二维电子气纳米电子器件的实现与应用尤其是对界面二维电子气的载流子密度和迁移率调制等带来了物理上的困难。