银包铜粉镀层结构及性能研究

来源 :中国电子学会敏感技术分会电压敏专业学部第十八届学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:borinz
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  本文采用化学还原法,调整镀银工艺过程。制备球状、银含量为30%~50%的银包铜粉,通过SEM、XRD、粒度分布仪、数字欧姆表和差热分析仪表征了镀银铜粉和原始铜粉的表面形貌、表面结构及导电性能。结果表明:球状银包铜粉表面镀层致密性好、包覆完全。包覆层厚度达到336nm,具有较好的导电性和抗氧化性。
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