丰富的边界辐射信息对一些逆问题非常有帮助，可以利用探测器在边界检测辐射强度或辐射热流信号，结合成像技术重建二维/三维温度场、反演系统光学参数、探测系统形状及位置、重构系统内部结构。本文用DRESOR法在非均匀二维矩形系统中求解边界平行光入射辐射传递问题，着重考察平行光不同入射角度、介质各向异性散射及系统不同光学厚度条件下，边界辐射强度在各方向上变化情况及边界出射辐射热流变化情况。研究发现：在二维系统中边界辐射强度沿水平角φ的分布并不均匀，并且θ越大，这种不均匀性越明显。在各向异性散射介质中，验证了辐射强度在各角度上的分布与散射相函数在各角度上散射能力分布的一致性。当系统光学厚度增加时，边界上的出射辐射强度在除入射方向以外其他方向上的值随光学厚度的增加先增大后减小，而不是单调增大或减小。