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条式测试(Strip Test)是运用圆片测试(Wafer Test)的原理来对整条框架上的器件进行成品测试(Final Test),可以同时并行测试(Parallei Test)多个器件,可以很方便地进行高温、常温、低温测试,从而提高了生产能力,降低了测试成本.本文介绍了条式并行测试技术的优点及难点和南通富士通微电子股份有限公司条式并行测试技术的现状，可以对SOP8整条框架112颗器件同时并行高温测试。