基于IEEE1445标准的电路板自动测试结构设计与实现

来源 :2007年全国测控、计量、仪器仪表学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:jinhait2009
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由于各种电路板自动测试系统(ATS)所具有的仪器模块、TPS开发环境、测试接口不完成一样,造成了TPs对ATS的依赖性,引起在它们之上所开发的TPS不兼容的问题,为了解决此问题及造成的测试资源浪费,基于IEEE1445标准的思想,对原有的电路板测试结构进行了拓展,提出了一种新的自动测试结构。实际应用表明,该结构通用性较强,在很大程度上提高了TPS的有效性,扩展了ATE的使用范围,提高了工作效率,为电路板测试诊断技术的发展提供了一定的参考价值。
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