工业CT图像亚像素边缘检测方法对比研究

来源 :2011年全国射线检测技术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:kingwaaaa
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  概述了常用的工业CT图像边缘检测方法,阐述了Zernike矩边缘检测法、sigmoid拟合法、C-V模型三种亚像素边缘检测方法原理,并重点分析比较了三种方法的定位精度、检测速度、抗噪能力和弱边缘检测能力。理论分析与实验结果表明:C-V模型边缘定位精度最高,抗噪能力最强:Sigmoid拟合法拟合弱边缘最有效;Zernike矩法边缘定位速度最快、细节检测能力强。
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