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本文以聚四氟乙烯多孔薄膜驻极体为例,借助等温表面电位衰减测量和开路热刺激放电(Thermally Stimulated Discharge,TSD)电流谱分析研究了经常温和高温正负电晕充电后的这类材料的电荷储存稳定性,为了讨论其电荷稳定性改善的结构根源,利用扫描电镜探测了其表面形貌特征.多孔和非多孔的聚四氟乙烯薄膜驻极体的电荷储存的比较性研究也已进步.研究结果指出:如果相对湿度不高,由于薄膜的多孔性可能导致两种极性的这类非极性薄膜驻极体表面电荷稳定性的明显改善.