整支MOA8/20μs残压测量分析

来源 :电工陶瓷专业委员会2002年学术交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:cho159753
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通过试验发现MOA8/20μs雷电冲击下整支残压与单片叠加值的差异,分析了整支残压测量的准确性和必要性.强调MOA整支残压在绝缘配合中的重要地位.本文通过大量的试验比较,发现在冲击电流试验中电容分压器对测量波形产生畸变,正确的测量仪器是选用电阻分压器测量.
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