论文部分内容阅读
目的：亲代暴露于高电磁辐射环境是否会影响子代的生长发育是值得深入探讨的问题,本研究通过观察亲代大鼠暴露于电磁脉冲(EMP)场所产子代大鼠脑内多巴胺转运体(dopamine transporter,DAT)的表达的变化,了解EMP对子代大鼠神经功能的影响,DAT是近年用于检测脑内多巴胺能神经体系障碍的重要指标,它通过再摄取突触间隙的多巴胺而终止其对突触后神经元的影响.材料和方法：选择健康成年Wister大鼠,体重约200g,雌雄各半,暴露于场强为200kV/m,脉冲次数为400次的EMP,辐照结束后以雌(♀)：雄(♂)比例为1：1合笼,合笼情况依亲代雌和(或)雄受照情况,即辐照♀+正常♂、正常♀+辐照♂、辐照♀+辐照♂、正常♀+正常♂,子代出生后,选择雄性大鼠以亲代EMP暴露情况为依据分组喂养,应用免疫组织化学和免疫印迹技术观察1月龄、3月龄、12月龄和24月龄大鼠脑内前额叶皮质、豆状核区多巴胺转运体的表达.结果：各组大鼠前额叶皮质、豆状核区多巴胺转运体免疫反应强度在24月龄组明显低于3月龄(P＜0.01)及12月龄组(P＜0.05),24月龄组大鼠前额叶皮质、豆状核区DAT与β-actin免疫印迹条带相对吸光度的比值低于3月龄和12月龄组(P＜0.05,P＜0.01)；辐照♀+辐照♂组大鼠前额叶皮质、豆状核区多巴胺转运体免疫反应强度在1月龄,3月龄高于其他组(P＜0.05),辐照♀+辐照♂组大鼠前额叶皮质、豆状核区DAT与β-actin免疫印迹条带相对吸光度的比值高于1月龄和3月龄组(P＜0.05)；辐照♀+辐照♂组大鼠前额叶皮质、豆状核区多巴胺转运体免疫反应强度在12月龄,24月龄低于其他组(P＜0.05),辐照♀+辐照♂组大鼠前额叶皮质、豆状核区DAT与β-actin免疫印迹条带相对吸光度的比值低于1月龄和3月龄组(P＜0.05).结论：双亲大鼠均暴露于EMP可导致产子代大鼠脑内DAT的表达异常.