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有机薄膜低频相对电容率ε[*vr*]和损耗因数tanδ的测试技术
【机 构】
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西安交通大学
【出 处】
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中国电工技术学会电气绝缘性能测试技术与测试仪器学术讨论会
【发表日期】
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1986年期
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