论文部分内容阅读
热控材料的半球发射率是一种重要的热物性参数，通常测量方法包括热学(卡计法)和光学法，而热学法中又包括瞬态和稳态两种方法。本文分析对比了两种测试方法，重点介绍了自行组装的稳态卡计法热辐射测量仪，该测量仪可以测量在-100℃
ˉ100℃范围内的半球发射率。文中还对测量误差进行了详细分析，并采用这种设备对LSM热致变色材料的半球发射率进行了测量，取得了良好的测量结果。