γ射线同位素测厚仪广泛应用于工业生产中,当γ射线穿透物质时会与物质发生相互作用导致透射γ射线强度降低,理想窄束射线垂直入射物体时,透射射线强度与厚度呈指数关系:I=I₀e^μx。然而实际中通常无法保证窄束条件,使得上述公式不能很好符合实际测量结果,一方面射线有一定张角,使得射线穿透距离比被测物厚度比偏大,另一方面散射光子也有可能到达探测器形成信号。本文以²⁴¹Am为γ射线源（59.6 keV）,从理论、试验和MCNP仿真上研究了²⁴¹Amγ射线在厚度测量中的衰减规律,并提出了刻度校正公式,具体工作主要包括以下几部分:（1）从理论上推导了射线有一定张角时透射规律,给出了透射射线强度与射线张角及被测物厚度的关系。（2）对于低能γ射线,其与物质作用形式有光电效应、康普顿散射、瑞利散射（相干散射）。部分散射光子可以进入探测器造成干扰,依据康普顿散射和瑞利散射的基本规律估算了厚度和射线张角对散射的影响以及散射射线对测量结果的影响。（3）利用MCNP模拟仿真γ射线衰减情况,MCNP能够对散射光子与透射光子分别进行计数,可以定量考察散射光子的影响,并将结果与理论分析对照。（4）利用同位素源对厚度为0.07³ mm的大量标定片进行实验测量,得到衰减曲线并将结果同上述分析对比。通过上述工作,本文对²⁴¹Amγ射线厚度测量的影响因素和各因素影响情况进行了全面的分析,这对γ射线测厚应用有一定理论指导意义。