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研究电磁脉冲对电路的注入与辐照效应，并探讨注入法与辐照法的相关性．以引信点火电路上的关键器件可控硅为研究对象，以方波脉冲为干扰源，进行了注入试验和辐照试验，比较了不同型号的可控硅、不同脉宽的脉冲的注入与辐照效应．结果表明，注入效应与脉宽有关，而辐照效应与脉冲的上升沿有关，而且不同型号可控硅的注入损伤排序与辐照干扰排序不同，此结果说明注入法与辐照法没有相关性．