液晶面板Black-Gap不良的分析研究

来源 :2012中国平板显示学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yun09
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  在TFT-LCD生产过程中,Black-gap不良是影响产品品质的一项常见的缺陷,造成此类不良出现的原因多种多样,给解析带来较多困难。本文利用盒厚测试仪(RETS-4600)、3D显微镜、硬度测试仪等设备对Black-gap不良进行了深入解析,对其发生的机理及改善方案进行了分析探讨。测试结果显示,Black-gap不良的直接原因是由面板受压导致盒厚不均造成,但其本质是由阵列基板设计,隔垫物的材料性能,以及成盒工艺等一系列原因造成。
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