2. 您的位置
3. 首页
4. 会议论文
5. DSP在BXT2931半导体器件参数测试仪中的应用

DSP在BXT2931半导体器件参数测试仪中的应用

来源 :第二届全国信号处理与应用学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：YT479102771

【摘 要】

：

本文简要介绍DSP在BXT2931系列半导体参数测试仪的控制和微尺度器件参数分析方面的应用，包括DSP子系统硬件设计和控制软件设计，以及与GPIB的通讯。

【作 者】

：

谭映 王洁 马金源 靳磊 许铭真 谭长华 

【机 构】

：

北京大学 微电子研究院，北京 100871

【出 处】

：

第二届全国信号处理与应用学术会议

【发表日期】

：

2008年9期

【关键词】

：

DSP技术 半导体器件 参数测试仪 

下载到本地 , 更方便阅读

下载此文 赞助VIP

声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架

论文部分内容阅读

本文简要介绍DSP在BXT2931系列半导体参数测试仪的控制和微尺度器件参数分析方面的应用，包括DSP子系统硬件设计和控制软件设计，以及与GPIB的通讯。

其他文献