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主要通过描述晶体外接负载阻抗的影响与晶体负载阻抗的串并联等效电路的不同分析了短期频率稳定度与有载Q值之间的关系。
关于短期频率稳定度的分析
【摘 要】
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主要通过描述晶体外接负载阻抗的影响与晶体负载阻抗的串并联等效电路的不同分析了短期频率稳定度与有载Q值之间的关系。
【机 构】
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北京无线电计量测试研究所,北京100039
【出 处】
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2008年全国频率控制技术年会
【发表日期】
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2008年11期
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