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嵌入式存储体目前已经广泛用于芯片设计,对于很多芯片而言,片上存储体是影响芯片成品率的主要因素,在某芯片内集成了大量的定制存储体D_MM,本文采用内建自修复和存储体冗余技术实现对该存储体的在线测试与修复,两者紧密结合满足了很高的设计频率指标要求,并且能够对MBISR电路进行有效的功耗控制。