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某电子设备的振动试验失效及原因分析

来源 :2005第十一届全国可靠性物理学术讨论会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：birdlay

【摘 要】

：

本文介绍了一例电子设备在振动试验中出现元器件失效的基本情况,分析了失效的原因,并提出了解决失效的方法及机籍和印制板抗振设计时应注意的问题.

【作 者】

：

戴柏林 王志刚 周峻林 

【机 构】

：

西南电子电信技术研究所

【出 处】

：

2005第十一届全国可靠性物理学术讨论会

【发表日期】

：

2005年10期

【关键词】

：

电子设备 振动试验 失效分析 

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本文介绍了一例电子设备在振动试验中出现元器件失效的基本情况,分析了失效的原因,并提出了解决失效的方法及机籍和印制板抗振设计时应注意的问题.

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