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随着集成电路的迅速发展,特别是片上系统SOC的出现,混合信号电路的集成度越来越高,其测试变得越来越复杂。传统的测试方法已经很难对模数混合信号进行有效测试,测试问题成了长期以来制约其发展的瓶颈,因此研究混合信号电路的测试测试方法具有重要的理论价值和实际意义,可测性设计(DFT)被认为是解决此问题有效的方法,本文主要讨论了可测性设计的边界扫描和内建自测(BIST)技术。