Detecting Opens in Fan-out Mode for Flash Testing

来源 :第五届中国测试学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ares_ding
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To lower cost of flash testing, fan-out mode, also called wired-OR mode is implemented to increase testing parallelism. During applying this mode, some issues must be solved and opens are one of them. This article discusses opens impact of different type of pins and gives a simple method to catch higher address pin opens which may be bypassed incautiously.
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